Measurement of the rare decay π0→e+e-

E. Abouzaid, M. Arenton, A. R. Barker, L. Bellantoni, A. Bellavance, E. Blucher, G. J. Bock, E. Cheu, R. Coleman, M. D. Corcoran, B. Cox, A. R. Erwin, C. O. Escobar, A. Glazov, A. Golossanov, R. A. Gomes, P. Gouffon, K. Hanagaki, Y. B. Hsiung, H. HuangD. A. Jensen, R. Kessler, K. Kotera, A. Ledovskoy, P. L. McBride, E. Monnier, K. S. Nelson, H. Nguyen, R. Niclasen, D. G. Phillips, H. Ping, X. R. Qi, E. J. Ramberg, R. E. Ray, M. Ronquest, E. Santos, J. Shields, W. Slater, D. Smith, N. Solomey, E. C. Swallow, P. A. Toale, R. Tschirhart, C. Velissaris, Y. W. Wah, J. Wang, H. B. White, J. Whitmore, M. J. Wilking, B. Winstein, R. Winston, E. T. Worcester, M. Worcester, T. Yamanaka, E. D. Zimmerman, R. F. Zukanovich

Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

105 Scopus citations

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Measurement of the rare decay π0→e+e-'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering